Probíhá komunikace se serverem...

ČVUT eobchod
česky english Podporované platby kartou Visa a Master card
Suchánek, Jan: Fundamentals of Technology I
Skripta jsou určena zahraničním (ale i českým) studentům předmětu "Fundamentals of Technology I", který je přednášen v prvním ročníku na FS ČVUT v Praze. Učební text slouží k ucelení přehledu o základních výrobních technologiích: primární h...
ČVUT eobchod226 Kč vč.DPH
Mikš, Antonín: FYZIKA I
Jedná se o přednáškové skriptum k základnímu kurzu Fyziky G pro studijní obor G (Geodézie, kartografie a geoinformatika). Obsahem skripta jsou základy mechaniky (kinematika a dynamika hmotného bodu; soustava hmotných bodů a tuhé těleso; gravitační po...
ČVUT eobchod202 Kč vč.DPH
Nováková, Zdenka: INTERIOR DESIGN - IN 1
Skripta určená pro zahraniční studenty mají poskytnout základní informace k řešení interiéru stavby ve smyslu vytvoření co nejvhodnějšího prostředí z hlediska funkce i výtvarného vyznění. Výklad je zaměřen na pojetí interiéru jako součásti komplexní ...
ČVUT eobchod265 Kč vč.DPH
Pokorný, Marek: Požární bezpečnost staveb. Sylabus pro praktickou výuku
Skripta (sylabus) předkládají zjednodušený náhled do legislativně náročné problematiky požárně bezpečnostního řešení (PBŘ) staveb. Sylabus je určen především pro praktickou výuku na Katedře konstrukcí pozemních staveb Fakulty stavební ČVUT v Praze, a...
ČVUT eobchod129 Kč vč.DPH
Termohrnek ČVUT
Bílý dvoustěnný termohrnek s logem ČVUT, nerezový, plastové šroubovací víčko, objem 450 ml, výška 19,5 cm. Není určen k mytí v myčce.
ČVUT eobchod200 Kč vč.DPH
Schovat slider
 

Boháček, Jaroslav: Metrologie

Fakulta FEL
Vydání 3. přeprac. vydání
Rok vydání 08/2019
Rozsah Stran: 134, Obrázků: 105, Příloh: neuvedeno, CD: neuvedeno
Nakladatel ČVUT
ISBN 978-80-01-06612-6
Cena (vč.DPH 10 %) 205 Kč
Skladem 55 ks
Počet  ks
Popis produktu:
Skripta jsou především určena studentům předmětů A0M38MET a XP38MPM, které jsou zajišťovány katedrou měření na FEL ČVUT v Praze. Jejich první část je věnována fundamentální metrologii, pojednává o měřicích škálách, soustavě měřicích jednotek SI, etalonech elektrických veličin, metodách používaných při navazování etalonů, chybách měření a nejistotách měření. Druhá část je zaměřena na problematiku přesných měření stejnosměrných a nízkofrekvenčních elektrických veličin a seznamuje studenty jednak se speciálními prostředky a zařízeními, jejichž používání umožňuje dosahovat vysoké přesnosti měření, jednak s vlastními metodami přesného měření aktivních i pasivních elektrických veličin.

Nejčastěji prodávané produkty společně se zobrazeným zbožím:

Mařík, Vladimír: 70 let podivné vědy / Rozhovory s naši...

277 Kč

Suchánek, Jan: Fundamentals of Technology I

226 Kč

Krbálek, Milan: Matematická analýza III

317 Kč
ČVUT Ochrana osobních údajů Helpdesk